作物生長狀況受很多因素的影響，比如作物種子質量、土壤環(huán)境、大氣環(huán)境、農民種植技術等等，有些是人為可以控制的，而有些是人們無法左右的，經過植物學家研究得出，作物冠層與作物生長狀況有著重要的關系，研究作物冠層，能夠研究光能對植物生長的促進作用，而這些都離不開作物冠層分析儀，作物冠層分析儀主要用于分析植物的冠層狀況，在使用作物冠層分析儀時除了要避免陽光直射，這三點也一定要注意：
　　1.要注意葉片與傳感器的距離
　　作物冠層分析儀是利用傳感器來進行測量的，因此測量的過程中，要注意葉片與傳感器的距離，因為太近也會導致測量的誤差。因此要明確葉片與傳感器的距離限制，如果距離無法縮小，可以考慮增加重復次數來解決這個問題。
　　2.注意斜坡的影響
　　在測量的過程中，有些測量對象是在斜坡上的，因此此時就需要注意了，對于斜坡測量，使用作物冠層分析儀的時候，應該盡量使傳感器保持與斜坡相匹配，而不是實際的水平。
    3.注意樣地尺寸的影響
    由于在測量的過程中，要保證傳感器的視野范圍是冠層高度的3倍，因此這就對樣地的尺寸有要求，如果尺寸太小，勢必會影響測定結果，但是如果實在是無法解決樣地尺寸太小的問題，那么可以采用觀察帽的方法。
　　作物冠層分析儀型號為TOP-3000，植物冠層太大，不利于植物的光合作用，這樣植物生長就會受阻，作物冠層分析儀分析作物的冠層生長狀況，從而可以進一步分析作物長勢。